Soluciones para pruebas de sistemas electrónicos

Investigación y desarrollo

Pruebas de sistemas electrónicos en banco de pruebas

Nadie puede permitirse costosas retiradas y reparaciones provocadas por procedimientos de prueba inadecuados. Con un dispositivo termográfico incorporado en la rutina de pruebas en banco de pruebas, puede detectar visualmente componentes sobrecalentados antes de que fallen y causen daños en las placas de circuitos impresos. Localice problemas inminentes en todo, desde componentes separados como capacitadores o resistencias hasta componentes de alimentación como transformadores y transistores, o detecte rastros de daños por cortes de energía. Teniendo la termografía a su disposición, puede detectar miles de puntos de medida en cada imagen térmica y obtener datos fiables en cuestión de segundos. 

FLIR ofrece las soluciones termográficas más fiables para ayudarle a obtener una visión general y los resultados correctos a la primera.

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